Kapton® EN,高模量聚酰亚胺薄膜
Kapton® EN是一种高性能聚酰亚胺薄膜,用于柔性印刷电路和高密度互连的介电基板。Kapton® EN因其 的尺寸稳定性、平铺、高模量以及热膨胀系数与铜匹配,是极细间距电路的 介电膜。

Kapton® EN提供从5微米超薄到50微米厚度的广泛厚度,为客户提供了更多设计灵活性。
Kapton EN聚酰亚胺薄膜中得以保留Kapton®® HN和VN薄膜固有的优异电性和化学刻蚀性。Kapton® EN薄膜吸湿率极低,且可激光烧蚀。

应用包括:
柔性印刷电路
细音高电路
芯片级封装
高密度互联


电晕寿命

与所有有机材料一样,Kapton® 会受到电晕放电的侵蚀,
持续暴露于电晕放电下最终会导致介电失效。
在中等强度的电晕暴露下,
采用 Kapton® 绝缘的器件可存活长达 3000 小时,
这足以保证短暂暴露于电晕不会
显著影响基于 Kapton® 的、设计合理的绝缘系统的寿命。
电晕阈值电压和强度是许多参数的函数,
包括绝缘层厚度、空气间隙厚度和器件形状。
代表,了解 Kapton® 是否适用于可能存在电晕的特定应用。
图 22 显示了 25 μm (1 mil) Kapton® HN
聚酰亚胺薄膜在 60 Hz 下的寿命与电压(RMS)的关系。
当接近电晕起始水平时,Kapton® 寿命曲线趋于平缓,
表明其具有较长的寿命。需要强调的是,Kapton®绝缘磁线、包覆层和槽绝缘材料具有 的
隔热和防潮性能,在设计合理的系统中,可放心使用,无需担心电晕放电。Kapton®可单独使用,也可与其他绝缘材料组合使用。

杜邦™ KAPTON® 性能概述
抗辐射性

由于其优异的抗辐射性,Kapton® 常用于
需要柔性绝缘材料的高辐射环境。在太空领域,Kapton® 可单独使用,也可
与其他材料组合使用,用于
需要以最小重量实现抗辐射性能的应用。美国政府
实验室对
Kapton® 的伽马射线和中子辐射暴露测试数据汇总于表12和表13。

Kapton® 在核反应堆和直线加速器中的适用性测试
除了辐射外,还包括暴露于有害的化学环境。例如,核电站安全壳区域冷却剂丧失事故 (LOCA) 测试的认证
会使系统暴露于
蒸汽和氢氧化钠中,这两种物质都容易
降解 Kapton®。因此,当 Kapton® 用于需要符合 IEEE-323 和 -383 认证的核电系统时,
需要采用工程设计来保护 Kapton® 免受
LOCA 喷雾的直接暴露。
表 14 中的数据证明了 Kapton® 在外太空高真空环境下具有优异的抗紫外线性能。
然而,在地球大气层中,如果 Kapton® 直接暴露于
紫外线、氧气和水的某些组合,则会产生协同效应。
图 23 显示了这种效应,即 Kapton® 在佛罗里达测试面板中暴露时伸长率的降低。
图 24 显示了伸长率降低与
Atlas 耐候试验箱中暴露时间的关系。
设计考虑应考虑到这种现象。